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    NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

    產品時間:2022-05-12

    簡要描述:

    NIST SRM熒光光譜的相對強度校正(標準品) 旨在用于評估和校準具有連續激發源的穩態熒光光譜儀的相對光譜響應度,并用于確定日常或儀器到儀器的強度變化單個或類似的熒光儀器


    本公司專業代理NIST國際標準品,詢價訂購: 。


    標準參考物質? 2944

    熒光光譜的相對強度校正標準:

    紅色發射

    樣品系列

    NIST SRM熒光光譜的相對強度校正


       本標準參考材料(SRM)用于相對光譜的評估和校準具有連續激發源的穩態熒光光譜儀的響應度和用于測定單個或類似熒光儀器的日常或儀器間強度變化,分別地SRM 2944的一個單元由一塊反應杯形狀的實心玻璃組成。樣本系列單元Bi0XX和Bi0YY之間的序列號。該SRM的相對校正發射光譜E,以發射波長λEM=530 nm至830 nm的相對能量單位,波長間隔為1nm,波長固定激發波長(λEX)為515.0 nm。由于峰值附近有較大的信噪比,因此排放λEM=590 nm至805 nm的范圍是大多數儀器和應用的最佳范圍。請注意當用于熒光光譜儀的光譜校正時,標準的認證值成為參考值用脈沖光源。

    認證值:NIST認證值是指NIST對其準確性有最高信心的值所有已知或可疑的偏見來源都已被調查或考慮[1]。E的認證值在95%置信水平下,每個發射波長下相應的總不確定度U95如表所示表1和表2。E的計量溯源性為NIST光譜輻射度標度,以相對輻射度表示能量單位。SI波長的溯源性是指計量儀表的波長溯源性。SRM的定位應使激發光束垂直于一個拋光面,并位于其中心,且與從與激發光束成90度角的相鄰拋光面收集發射。漫長的磨砂面應背對著檢測系統。每個SRM的頂部都刻有自己的序列號面部,使用時應面朝上。磨砂面可與正面或熒光幾何體一起使用,或拋光面可用于不同于上述規定的幾何形狀,但認證值在這些情況下成為參考值。在25.0℃±0.5℃條件下,使用激勵帶寬(?λEX)3.0 nm和發射帶寬(?λEM)為3.0 nm。

    NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

    認證有效期:SRM 2944的認證在規定的測量不確定度范圍內有效,直到2025年8月31日,前提是SRM按照本證書中給出的說明進行處理和存儲(參見“搬運、儲存和使用說明")。如果SRM損壞,則認證無效,被污染或以其他方式修改。


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